LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
方案概述
LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)試半導(dǎo)體芯片老化性能的設(shè)備。半導(dǎo)體芯片在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行后，可能會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象，比如電容降低、漏電流增加等，這些現(xiàn)象會(huì)影響芯片的性能和可靠性。因此，LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)被用來(lái)模擬芯片長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行的環(huán)境，以便測(cè)試芯片在長(zhǎng)時(shí)間使用后的性能及可靠性。
該系統(tǒng)通常包含加熱、降溫、恒溫等多種測(cè)試條件，并配有專(zhuān)業(yè)的測(cè)量?jī)x器，可以對(duì)芯片的電學(xué)性能、熱學(xué)性能、機(jī)械性能等進(jìn)行測(cè)試。此外，該測(cè)試系統(tǒng)還可以記錄芯片的使用時(shí)間、電壓、溫度等參數(shù)，以幫助工程師分析芯片的工作情況和預(yù)測(cè)芯片的使用壽命。
技術(shù)參數(shù)
| LSIC2000/7000系列 | LSIC8000系列主要技術(shù)參數(shù) |
| 1.提供32個(gè)老化插槽，可獨(dú)立老化16種不同器件 | 1.提供16個(gè)老化插槽，可獨(dú)立老化16種不同器件 |
| 2.每個(gè)老化插槽提供184路可獨(dú)立編程的數(shù)字信號(hào)，其中有32路為雙向I/0 | 2.每個(gè)老化插槽提供128路可獨(dú)立編程的數(shù)字信號(hào)，128路全為雙向I/0 |
| 3.每個(gè)老化插槽提供8個(gè)DPS二級(jí)電源，二級(jí)電源可提供0.5~6V的電壓:0~25A的電流:級(jí)電源的電壓精度為士5%+30mV; 電流精度為-1%+50mA | 3.每個(gè)老化插槽提供8個(gè)DPS二級(jí)電源，二級(jí)電源可提供0.5~6V的電壓:0~25A的電流:級(jí)電源的電壓精度為士5%o+30mV; 電流精度為+1%+50mA |
| 4.上升/下降時(shí)間參10nS | 4.上升/下降時(shí)間至10nS |
| 5.數(shù)字信號(hào)Pin最大驅(qū)動(dòng)電流: 50mA | 5.數(shù)字信號(hào)Pin最大驅(qū)動(dòng)電流: 50mA |
| 6.數(shù)字信號(hào)最大頻率可達(dá)12.5Mhz | 6.數(shù)字信號(hào)最大頻率可達(dá)12.5Mhz |
| 7.向量最大深度可達(dá)16M行 | 7.向量最大深度可達(dá)16M行 |
| 8.文件格式為VEC格式，支持sti1格式文件直接轉(zhuǎn)換為VEC格式文件 | 8.文件格式為VEC格式，支持sti1格式文件直接轉(zhuǎn)換為VEC格式文件 |
| 支持向量指令A(yù)DV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳轉(zhuǎn)指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME調(diào)用指令:CALL,RET | 9.支持向量指令A(yù)DV,HALT,SFX,CRFX,LIX,MSSA跳轉(zhuǎn)指令: JUMP,RPT,JIX,JNIX,JFX,JNME調(diào)用指今: CALL,RET |
| 10.支持8路獨(dú)立溫控:溫控精度至3”C |