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*測試功率雙極型管、混合電路、IGBT、MOSFET、SiC、JFET、二極管，使用軍用標準：MIL-STD-750，方法：1026.3、1027.1、1036.3、1037、1039 和 1042.1；

*間歇或穩(wěn)態(tài)工作壽命測試；

*每個設備板的 10 A @24V/48 V 電源；

*單個設備監(jiān)控和數(shù)據(jù)記錄；

*每個 DUT 板最多提供 100 個器件；

*每個 DUT 板的設備功率為 480W；

*最多 16 塊 DUT 板；

*DUT 測試板可隨時插入，而不會中斷測試周期。

*一個溫區(qū)，-40℃～+150℃;

*8種圖形，最大頻率10MHz;

*184通道，16個插槽;

*16M矢量內(nèi)存;

*最大循環(huán)時間100～20480nS;

*VOH/OL +0.5V～+6V;

*ISink/Source≥±125mA;

*Tr/Tf≤50nS;

*O/S&U/S≤10%。

*V93000憑借其可擴展的平臺架構，通過靈活的機臺配置實現(xiàn)各種類型芯片的測試，可滿足從低成本的IoT芯片到高端的諸如汽車電子類、高集成度多核處理器等芯片的測試需求。 PS1600數(shù)字板卡、AVI64板卡、高集成度的RF射頻板卡、模擬混合信號板卡、一流的DPS板卡和VI板卡均擁有通用的測試通道架構，幫助客戶實現(xiàn)更大的測試覆蓋率、加快客戶芯片上市時間，讓測試環(huán)節(jié)更加經(jīng)濟高效。

*集成了創(chuàng)新的高性能獨立測試通道。在多同測數(shù)的情況下， 每個測試通道可獨立處理測試需求，從而獲得最大的靈活性及最優(yōu)的性能。測試處理器的整體控制確保在數(shù)字板卡、電源板卡、射頻板卡、混合信號板卡等所有類型的測試板卡間的時序同步。