MPS2000
電源模塊高溫老化測(cè)試系統(tǒng)
該系統(tǒng)對(duì)于電源模塊試驗(yàn)要求，提供高溫環(huán)境，以及試驗(yàn)條件(包括輸入電源、負(fù)載、輸出電壓、負(fù)載電流等)，同時(shí)進(jìn)行各種試驗(yàn)條件的檢測(cè)，包括輸入電壓、試驗(yàn)箱溫度、器件輸出電壓、輸出電流等主要參數(shù)。系統(tǒng)可適應(yīng)于研究所、微電路器件生產(chǎn)廠等進(jìn)行各種器件的壽命篩選試驗(yàn)和二次篩選試驗(yàn)，適用于小批量多品種的試驗(yàn)要求。
