IOL2000
間歇壽命老化測(cè)試系統(tǒng)
該系統(tǒng)適用于各種封裝(包括F型、TO-220、TO-247、TO-254、TO-257、TO-258、TO-3P、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等) 的大功率二極管、MOS管等功率器件進(jìn)行功率循環(huán)試驗(yàn)和恒流功率試驗(yàn)。系統(tǒng)每個(gè)區(qū)位風(fēng)道獨(dú)立，充分避免不同區(qū)位試驗(yàn)進(jìn)程不同對(duì)試驗(yàn)結(jié)果造成影響；在實(shí)驗(yàn)過程中，監(jiān)測(cè)器件的電壓、結(jié)溫特性，并且提供結(jié)溫特性曲線以備后期數(shù)據(jù)分析。
