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【再創(chuàng)佳績】浙江杭可儀器有限公司獲得“首臺套”證書!

2024/01/12

為深入貫徹省委、省政府關于制造業(yè)首臺(套)提升工程的有關要求,省經(jīng)信廳牽頭組織了2023年度首臺(套)產(chǎn)品認定工作,確定2023年度浙江省首臺(套)裝備292項。
浙江杭可儀器有限公司的LSIC7000 超大規(guī)模集成電路老化測試系統(tǒng)在本次認定工作中成功入選,該系統(tǒng)憑借其創(chuàng)新性和技術領先性,在集成電路老化測試領域取得了重大突破。這一認定不僅是對浙江杭可儀器有限公司的認可,更是對浙江省制造業(yè)創(chuàng)新能力和技術水平的肯定。




1. 主要功能
支持對FPGA、ARM、DSP、GPU、CPU、AI芯片等超大規(guī)模集成電路的壽命評估實驗、車規(guī)級芯片出廠老化測試、二篩服務。試驗溫度是室溫+10℃至+150℃ 范圍內的HTOL老化測試,允許實時監(jiān)測與對比,并支持still向量文件導入設備運行。
2. 產(chǎn)品優(yōu)勢
TDBl(老化中測試) 技術,支持實時監(jiān)測元件輸出信號。
支持芯片運行BIST測試和SCAN測試。
兼容美國MCC與韓國DI公司的LOGIC老化設備向量,便于客戶遷移測試向量。
采用硬公制高速連接器,大幅提高測試信號完整性。
采用專用大電流連接器,可靠性、穩(wěn)定性高。
3. 重要性及必要性
新能源汽車、國內軍工芯片的國產(chǎn)化替代導致半導體老化設備需求在快速增加。
中美貿易摩擦推動國內半導體行業(yè)自主可控進程。
LSIC7000超大規(guī)模集成電路老化系統(tǒng)可完全代替進口設備,全面實現(xiàn)國產(chǎn)化,為超大規(guī)模集成電路器件壽命評估、老化測試提供可靠的工藝設備保障。

4.技術指標



感謝各級政府及相關部門對我們的大力支持與認可,衷心感激每一位團隊成員的辛勤付出。展望未來,我們將堅定不移地以科技為先導,持續(xù)加大研發(fā)投入,推動企業(yè)科技創(chuàng)新,努力為客戶提供更優(yōu)質的產(chǎn)品和服務。


我們有信心,浙江杭可儀器有限公司將以卓越的業(yè)績,成為行業(yè)的領軍企業(yè),為社會的發(fā)展做出更大的貢獻。